淡江大學人工智慧學系

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期刊論文

年度110

等級其他

論文名稱Instrumentation of Twin-MCMs based Mutual-Test

全部作者Wang, S.S.P.; Y.T. Wang; C.-L. Chao; W.-B. Yang

卷數Microelectronics Journal 114, 105108

ISSN(ISBN)0026-2692

使用語言英文

備註期刊論文